技術概要
本技術は、光の利用効率を最大化しつつ、ぼけのない高解像度な画像と奥行き情報を同時に取得する撮像装置です。複数の撮像素子を積層し、その入射側に配置された空間光変調器からなる符号化開口を通じて光を制御します。空間光変調器が開口パターンを切り替えることで、各撮像素子でぼけが実質的にない像を結像させ、複数の画像データを再構成することで、画素数を超えた高空間解像度を実現します。これにより、従来の技術では困難だった高品質な空間情報取得が可能となります。
メカニズム
本技術は、光電変換部と読出回路を持つ複数の撮像素子を積層したカラー撮像素子と、その入射側に配置された空間光変調器からなる符号化開口を備えます。符号化開口は複数の開口パターンを切り替え、各パターンでカラー撮像素子が画像を撮像。この際、撮像素子の光電変換部は下層の撮像素子が変換する波長域の光を透過させます。開口パターンは、特定の画素に光の一部を遮蔽しつつ、隣接画素にも光が入射するよう設計されており、これにより得られた複数の画像データから、高解像度で奥行き情報を含む画像を再構成する独自のアルゴリズムが用いられています。
権利範囲
AI評価コメント
本特許は減点項目が一切なく、Sランクに位置する極めて強力な権利です。2040年までの長期的な独占期間に加え、審査過程で拒絶理由を克服した堅牢な請求項を有しており、導入企業は安心して事業展開が可能です。技術的独自性と市場での優位性が高く評価されます。
| 比較項目 | 従来技術 | 本技術 |
|---|---|---|
| 空間解像度 | 画素数に依存 | ◎(画素数以上) |
| 奥行き情報取得 | 別途センサーや多眼構成が必要 | ◎(単一システムで同時取得) |
| 光利用効率 | フィルタや多眼で損失大 | ◎(高効率) |
| 装置の複雑さ | 多眼システムは大型化・高コスト | ○(単一モジュールで実現) |
| 画像のぼけ | 焦点深度に依存 | ◎(実質的にぼけなし) |
本技術による高精度な画像と奥行き情報の取得は、産業用検査における不良品検出精度を飛躍的に向上させ、手動での再検査や誤検出による廃棄ロスを大幅に削減できる可能性があります。例えば、製造ラインにおける月間検査工数を100時間短縮(人件費換算で年間600万円)し、不良品見逃しによる年間損失を2,400万円削減できると試算されます。合計で年間3,000万円の経済効果が期待されます。
審査タイムライン
横軸: 空間情報取得精度
縦軸: 光源利用効率