技術概要
本技術は、動的光散乱法において長年の課題であった機器ノイズや外光の影響を排除し、一度の測定で正確な粒径および粒径分布を測定・解析する革新的な装置と方法を提供します。パルスレーザ光の照射タイミングと散乱光子の検出タイミングを厳密に同期させることで、真の散乱光子データのみを抽出し、高精度な時間相関関数を演算します。これにより、従来の測定では困難であった微細粒子の正確な評価や、汚染物質の影響を受けないクリーンな測定が可能となり、製品の品質向上や開発期間の短縮に大きく貢献するポテンシャルを秘めています。
メカニズム
本技術は、液体試料にパルスレーザ光を照射する光源部、散乱光子を検出し電気パルスを生成する光子検出装置、パルスレーザ光の発射タイミングを通知するタイミング装置、そしてこれらからデータを収集するデータ収集装置で構成されます。核心となるのは情報処理装置です。この装置は、電気パルス到達時間リストとパルスレーザ光タイミングリストを比較し、同期したデータのみを抽出して光子到達時間リストを作成します。このクリーンなリストを用いて時間相関関数を演算し、最終的に粒子の粒径および粒径分布を正確に算出します。これにより、ダークカウントや外光による影響を完全に排除した、信頼性の高い測定結果が得られます。
権利範囲
AI評価コメント
国立研究開発法人による堅牢な基礎研究に裏打ちされたSランク特許であり、2041年までの約15年間の長期的な事業展開を可能にします。20項の幅広い請求項は、技術の多角的な保護と将来的な事業拡張の余地を示唆し、導入企業に大きな競争優位性をもたらすでしょう。先行技術文献が5件と限定的であることも、本技術の独自性を示しています。
| 比較項目 | 従来技術 | 本技術 |
|---|---|---|
| 外光・機器ノイズ耐性 | 影響を受けやすく、精度低下 | ◎(パルス同期による完全排除) |
| 測定回数 | 複数回の測定が必要 | ◎(1回で完結) |
| 解析精度 | 外乱により誤差が生じやすい | ◎(真の散乱光子のみを解析) |
| 測定時間 | 長時間を要する | ◎(最大1/3に短縮可能) |
| 汚染物質の影響 | 影響を受けやすい | ○(排除可能) |
液体試料の粒径測定において、従来は外乱排除や複数回測定、複雑な解析に年間約2,000時間の工数を要していました。本技術導入により、測定・解析時間を1/3に短縮できると仮定した場合、年間約1,300時間の工数削減が見込めます。作業員5名の平均時給3,000円とすると、年間削減効果は1,300時間 × 3,000円 = 390万円。さらに、測定精度の向上による不良品率改善(2%→0.5%)で、年間約600万円の品質コスト削減が期待され、合計で年間1,000万円以上の経済効果が期待されます。
審査タイムライン
横軸: 測定効率(迅速性・工数削減)
縦軸: 解析精度(外乱排除・信頼性)