技術概要
本技術は、フィルタ膜が実際に稼働している透水状態下においても、その分離機能層のインピーダンスを電気化学インピーダンス分光法(EIS)によって高精度に測定する画期的な方法と装置を提供します。従来の測定では、透水状態での測定が困難であったり、支持層の影響が大きく分離機能層本来の性能評価が難しかったりする課題がありました。本技術は、分離機能層側と支持層側で異なる価数のイオンを含む電解液を用いることで、支持層によるインピーダンスの影響を効果的に低減し、分離機能層の真の劣化状態や性能変化を正確に捉えることを可能にします。
メカニズム
本技術は、支持層上に分離機能層が担持されたフィルタ膜のインピーダンス測定において、特定の電解液組成を適用する点が核心です。分離機能層側の電解液には価数が1の単原子イオンを含む溶液を、支持層側の電解液には価数が2以上のイオンを含む溶液を用います。この電解液の組み合わせにより、支持層の電気伝導特性が分離機能層のインピーダンス測定に与える影響を最小化します。さらに、フィルタ膜を透水状態に保ちながらEISを行うことで、実際の運転環境下における膜の動的な変化をリアルタイムで把握し、より実用的な性能評価と劣化診断を実現します。
権利範囲
AI評価コメント
本特許は、残存期間14.8年と非常に長く、国立大学法人による出願かつ有力な代理人が関与しているため、権利の安定性が極めて高い優良特許です。11件の先行技術文献を乗り越えて登録された事実は、技術的な独自性と権利範囲の堅牢性を示す強力な証拠であり、競合に対する明確な優位性を提供します。Sランクに相応しい、極めて高い事業ポテンシャルを秘めた技術と評価できます。
| 比較項目 | 従来技術 | 本技術 |
|---|---|---|
| 測定対象膜の状態 | 非透水状態(静止状態)での測定が主流 | ◎透水状態(稼働中)での測定 |
| 支持層の影響 | 支持層のインピーダンスが測定結果に影響 | ◎支持層の影響を大幅に抑制 |
| 測定精度・再現性 | 実際の稼働状況との乖離が生じやすい | ◎分離機能層の真のインピーダンスを高精度に取得 |
| 適用可能な膜の種類 | 特定の膜に限定される場合がある | ○RO膜など幅広いフィルタ膜に適用可能 |
本技術の導入により、フィルタ膜の最適な交換・洗浄タイミングが把握できることで、膜の寿命が平均15%延長され、交換頻度が年間1回削減されると仮定します。また、不良品発生率が5%低減するとします。年間5基のフィルタ膜を使用するプラントの場合、膜交換費用(1基1,000万円)の削減で年間1,000万円、洗浄費用(1回100万円)の削減で年間500万円、不良品削減による機会損失改善で年間2,000万円の経済効果が見込まれるため、合計で年間3,500万円の運用コスト削減が期待できます。
審査タイムライン
横軸: リアルタイム診断精度
縦軸: 運用コスト削減効果